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開催案内

「半導体テストソリューション研究会」を開催いたします


　8月20日（木）に福岡システムLSI総合開発センターにて「半導体テストソリューショ ン研究会～設計におけるテスト品質～」を開催いたします。
　 知的クラスター創成事業のLSI実装技術に係る研究テーマ17「半導体集積回路の高歩留り化プラットフォームの研究開発」（研究代表：温教授）においては、LSIの大規模化・微細化・高速化・低電圧化に伴う歩留まり低下等の問題解決に取り組んでいます。　
  第１回目の研究会では、設計におけるテスト品質に焦点を当て、これら諸問題の解決策となる半導体テストの技術革新を目的とし、半導体テストソリューション研究会を開催致します。　
  テストプラットフォームにおける専門家を招聘し、講演およびパネルディスカッションを行いますので、是非ご参加ください。

※本プログラムは終了いたしました。　開催報告はこちらからからどうぞ。
タイトル

半導体テストソリューション研究会
～設計におけるテスト品質～

日　時

2009年8月20日（木）
　研究会：13:00～17:30
　交流会：17:45～19:30

場　所

研究会：福岡システムLSI総合開発センター　2階　会議室A　
交流会：福岡システムLSI総合開発センター　4階　交流サロン
　　http://www.ist.or.jp/lsi/pg03_01.html

主　催
 (財)福岡県産業・科学技術振興財団
後　援
 (財)北九州産業学術推進機構（FAIS）、九州半導体イノベーション協議会（SIIQ）、（財）大分県産業創造機構、四国シリコンテスト技術研究会
講演者

・温　暁青 氏(九州工業大学大学院　教授)
・梶原 誠司 氏(九州工業大学大学院  教授)
・正田 剛史 氏(サイバネットシステム株式会社 アドバンスドソリューション統括部　新事業推進室　DFxグループ　DFx新事業推進責任者)
・藤澤 良徳 氏(エスティケイテクノロジー株式会社 電気計測事業本部　開発部　部長)
・眞田 克 氏(高知工科大学 　教授) 　

ﾊﾟﾈﾙ
ﾃﾞｨｽｶｯｼｮﾝ

＜コーディネータ＞　
・津留　眞人 （福岡県産業・科学技術振興財団 科学技術コーディネータ）
＜パネリスト＞
・山口　大輔 氏（株式会社アルデート 代表取締役社長）
・古川　 寛 氏　（NECマイクロシステム株式会社　第一SoC開発事業部SoC第三グループ 課長）
・伊達　 博  氏（株式会社システム・ジェイディー 代表取締役）
・佐藤　康夫 氏（九州工業大学大学院　特任教授）
・小澤　雅英 氏（株式会社テラプローブ　取締役兼執行役員ＣＴＯ）

参加費
 無料 　
（交流会に参加される場合、別途会費2,000円が必要となります。）
申　込

申込書に御記入のうえ、FAXまたはEメールにてお申し込みください。

　　WORD形式(124KB)　　PDF形式(164KB)

Eメールでお申し込みの方は、以下の内容をご記載の上、お申し込みください。

・Eメール：infok@lab-ist.jp　

＝＝＝＝＝＝＝参加申込みフォーム＝＝＝＝＝＝＝＝
会社名・団体名　：　
所属部署・役職　：　
氏　名　：　

以下、“参加”・“不参加”のいずれかを消してください。

（1）半導体テストソリューション研究会（参加無料）
参加　・　不参加

（2）交流会 （参加費2,000円）　
参加　・　不参加
＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝
※交流会につきましては、当日キャンセルをする場合、必ずご連絡をお願い致します。

申込期限
 2009年8月14日（金）

問合せ

◆お電話でのお問い合わせは
(財)福岡県産業・科学技術振興財団
知的クラスタ 国際・広域化展開促進チーム　
　　　松元　祖子（まつもと　ひろこ）
Tel：092-832-7156/　Fax：092-832-7152

◆メールでのお問い合わせはこちらから



Tentative program

半導体テストソリューション研究会
～設計におけるテスト品質～

８月20日（木）　　
【開会の辞・主催者挨拶　13:00-13:05】
(財)福岡県産業・科学技術振興財団  システムLSI部長　伊藤 文章
【知的クラスター　代表挨拶　13:05-13:20】
(財)福岡県産業・科学技術振興財団
知的クラスター創成事業　事業総括　大津留　榮佐久
【基調講演　13:20-13:40】
「半導体集積回路の高歩留まり化プラットフォームの研究開発」
九州工業大学大学院　情報工学研究院　教授 温　暁青氏
【講演】
13:40-14:10
 「SoCテスト品質を巡る課題 ～設計検証・デバッグ・テスト～」
　サイバネットシステム株式会社
　アドバンスドソリューション統括部 　新事業推進室
　DFxグループ　DFx新事業推進責任者　正田　剛史氏
14:10-14:40
 「VLSIのディペンダビリティ向上のためのフィールドテスト手法」
　 九州工業大学大学院 情報工学研究院
    教授　梶原 誠司氏
14:40-15:00
（休　憩）
15:00-15:30
 「パーソナルテスターソリューションによるテスト開発/評価の効率化」
　 エスティケイテクノロジー株式会社 電気計測事業本部
　 開発部　部長　藤澤 良徳氏
15:30-16:00
 「故障箇所候補特定のための簡易な診断法－電圧値ベースによる故障診断技術－」
　高知工科大学　工学部　電子・光システム工学科　
　教授　真田 克氏
16:00-16:10
（休　憩）
【パネルディスカッション】
16:10-17:30

＜コーディネータ＞　
・津留　眞人 （福岡県産業・科学技術振興財団 科学技術コーディネータ）
＜パネリスト＞
・山口　大輔 氏（株式会社アルデート 代表取締役社長）
・古川　 寛 氏　（NECマイクロシステム株式会社　第一SoC開発事業部SoC第三グループ 課長）
・伊達　 博  氏（株式会社システム・ジェイディー 代表取締役）
・佐藤　康夫 氏（九州工業大学大学院　情報工学研究院 特任教授）
・小澤　雅英 氏（株式会社テラプローブ　取締役兼執行役員ＣＴＯ）

17:30
閉会
17:45-19:30
交流会（場所：福岡システムLSI総合開発センター4階　交流サロン ）
　
※プログラム、講演タイトルは変更する場合があります。
※上記プログラムのPDFファイルはこちらからダウンロードいただけます。