「半導体テストソリューション研究会～設計におけるテスト品質～」が8月20日（木）に福岡システムLSI総合開発センターにて開催されました。 各講演者は、故障診断技術、半導体テストビジネスのイノベーション、設計も含めた人材整備等、多様な面から専門的な知見を発表していただきました。 参加者は約60名となり、活発な議論、研究者間交流が展開されました。
