Joint Seminar on Advanced LSI Test Technology を開催いたします
知的クラスター創成事業テーマ17 「半導体集積回路の高歩留り化プラットフォームの研究開発」 （研究代表者：九州工業大学 温 暁青教授）では、下記の共同セミナーを開催致します。
どうぞ奮ってご参加ください
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タイトル |
Joint Seminar on Advanced LSI Test Technology
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日 時 |
2008年12月1日(月) 13:30～16:50
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場 所 |
福岡システムLSI総合開発センター 2F会議室A
（アクセス情報： http://www.ist.or.jp/lsi/pg03_01.html）
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主 催 |
九州工業大学情報工学研究院、九州大学システムLSI研究センター |
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共 催 |
福岡システムLSI総合開発センター、IEEE CAS Fukuoka Chapter
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参加費 |
無料（お申し込みが必要です） |
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◆添付の申込用紙に必要事項をご記入のうえ、下記宛にお送りください。
九州工業大学 森 麻依子 （sec@aries30.cse.kyutech.ac.jp）
申し込み用紙 Word形式(36KB)
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※本プログラムは英語での開催となります。 |
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program |
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Joint Seminar on Advanced LSI Test Technology |
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Date: December 1 (Monday) |
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13:30–13:35 |
Opening |
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Part I: Power-Aware Testing of Deep Submicron Designs |
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13:35–14:05 |
1.Dealing with Power and Signal Integrity Issues during Test of Very Deep Submicron Designs
Prof. M. Tehranipoor (University of Connecticut, USA) |
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14:05–14:35 |
2.Methodology and System for Reducing Power Supply Noise in At-Speed Scan Testing
Prof. K. Miyase (Kyushu Institute of Technology, Japan) |
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14:35–14:45 |
Break |
Part II: Security-Assuring of Integrated Circuits |
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14:45–15:15 |
1.Verifying Trustworthiness of Integrated Circuits
Prof. M. Tehranipoor (University of Connecticut, USA) |
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15:15–16:45 |
2.Design For Testability Methods against Scan based Attacks
Prof. M. Yoshimura (Kyushu University, Japan) |
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16:45–16:50 |
Closing | |
